| نقشه لایهها و لایهچینی | کارکرد لایهها، ترتیب، ضخامت هدف، مس و پلنهای مرجع | تقارن ساخت، ساختار دیالکتریک، ترتیب لمینیشن و امکانپذیری ضخامت نهایی | لایهچینی تأییدشده و نقشه ساخت در بازنگری آزادشده |
| مواد | خانواده تأییدشده یا مبنای عملکرد، پروفایل مس، محدودیتهای Tg یا قابلیت اطمینان و قواعد جایگزینی | سازگاری ساختار، موجودی، گزینههای ضخامت و هر معادل تأییدشده | اظهارنامه مواد یا سطح ردیابی موردنیاز در مشخصات خرید |
| سوراخکاری و سوراخهای آبکاریشده | اندازه سوراخهای نهایی، تلرانسها، ضخامت برد و الزامات آبکاری یا پرسفیت | انتخاب ابزار، امکانپذیری نسبت منظری، ریسک رینگ حلقوی و مسیر آبکاری | آزمون الکتریکی بههمراه شواهد ابعادی یا میکروسکشن در صورت مشخصشدن |
| وایاهای کور، مدفون و پرشده | لایههای متصل، هدف لمینیشن ترتیبی، الزامات پرکردن و کپ و هندسه پد | تعداد سیکل، ترتیب وایا، تعادل مس و دسترسی بازرسی | ساختار وایا و مقطع عرضی یا سوابق فرایندی مورد توافق |
| بکدریل | سمت ورود، لایه هدف، هدف پد و آنتیپد، عمق هدف و حد استاب باقیمانده | مرجع عمق، حاشیه رجیستری، دسترسی ابزار و انباشت تلرانس | نقشه بکدریل بههمراه روش تأیید و برنامه نمونهبرداری |
| امپدانس و تلفات کانال | کلاس نت، هدف، تلرانس، لایه مرجع، هدف هندسی و الزام تلفات یا کوپن | هندسه ترک در برابر ساختار مواد و پروفایل مس پیشنهادی | جدول امپدانس کنترلشده و سوابق کوپن یا اندازهگیری در صورت نیاز |
| مکانیک برد و پنل | خط محیطی، ضخامت، تختی، دیتامهای کانکتور، شیارهای نهایی و محدودیتهای جابهجایی | پنلبندی، ابزارگذاری، دسترسی پرسفیت، ریسک خمیدگی یا پیچش و مسیر جداسازی پنل | نقشه مکانیکی آزادشده و سابقه ابعادی نمونه اول |
| کیفیت و کنترل تغییرات | کلاس پذیرش، سوابق بازرسی، نمونهبرداری، ردیابی، بستهبندی و کنترل بازنگری | اینکه کدام شواهد ارائهشده، مشروط یا تأمینشده توسط مشتری هستند | سابقه پایلوت پذیرفتهشده و مجموعه داده تولید منجمدشده |