
محاسبات
شتابدهنده محاسباتی
BGA با گام 0.3 mm، همراه با boundary-scan، آندرفیل و سوابق ریفلو با خلأ.
boundary-scanآندرفیلخلأ

گام 0.3 MM • 01005 • کنترل حفره
DFM، شابلون و خمیر، جایگذاری ±25 µm، ریفلوی نیتروژن، ردیابی AXI و حفره، آندرفیل و بازکاری کنترلشده، قابلیت اطمینان اتصالات پنهان را در ساختهای پایلوت و بچهای تیراژ حفظ میکنند.
کنترلهای فرایند را با دادههای بازرسی همراه میکنیم تا اتصالات پنهان با شواهد کافی ارسال شوند.
via-in-pad، PoP و میکروویای پُرشده با مس پشتیبانی میشوند.
پشتیبانی بینایی ماشین و خلأ، CpK ≥1.33 را حفظ میکند.
تنظیم شابلون، خمیر و پروفایل + مکث خلأ.
پوشش
هر دروازه—DFM، شابلون، جایگذاری، ریفلو، بازرسی، آندرفیل و بازکاری—توسط یک تیم هماهنگ میشود تا بازده حفظ و چرخههای بازکاری کنترل شوند.
DFM و الگوی لند
بازبینی طراحی پد، فاصله ماسک، پُرشدگی via-in-pad و توازن مس، تاببرداشتن را محدود میکند.
شابلون و خمیر
شابلونهای پلهای/نانو 80–120 µm، خمیر نوع 5/6 و ابزار پشتیبان، پنجرههای چاپ را تثبیت میکنند.
جایگذاری و ریفلو
جایگذاری ±25 µm، پشتیبانی خلأ و ریفلوی نیتروژن ΔT ≤5 °C با ترموکوپلها.
بازرسی و بازکاری
AOI سهبعدی، AXI نمونهبرداری، گزارش حفره، آندرفیل، تثبیتسازی و روشهای بازکاری تا ≤3 چرخه.

راهنمای فرایند
دروازههای تعریفشده، ساختهای متراکم BGA/QFN را از دریافت اطلاعات تا بازکاری پایدار نگه میدارند.
دریافت اطلاعات پکیج
نقشهها، ساختار پدها، مشخصات خمیر و اهداف حفره را جمعآوری میکنیم.
تنظیم فرایند
انتخاب شابلون و خمیر، جایگذاری و شبیهسازی ریفلو.
اجرای تولید
SMT با SPI/AOI صددرصدی، پشتیبانی خلأ و ریفلوی نیتروژن.
بازرسی و تحلیل
AXI، گزارشهای حفره، بررسی یونی و داشبوردهای SPC.
آندرفیل و بازکاری
آندرفیل و تثبیتسازی را اجرا میکنیم و بازکاری کنترلشده تا ≤3 چرخه را همراه با AXI پس از آن انجام میدهیم.
نمونه برنامهها
ساختهای دارای اتصال پنهان که هر فصل با کنترل مستند حفره و محدودیت بازکاری اجرا میکنیم.




قابلیتها
ابزارها، فیکسچرها و تحلیلهایی متناسب با موفقیت اتصالات پنهان.
آزمایشگاههای اختصاصی ریفلو، AXI، آندرفیل و بازکاری با کنترل رطوبت.



کیفیت
بازرسی درونخطی، AXI و تحلیل حفره، اتصالات پنهان را قابل مشاهده میکنند.
بررسی نسبت سطح، SPC ارتفاع خمیر و حلقههای بازخورد چاپگر.
نمونهبرداری AXI و گزارشهای C-SAM/حفره با هدف حفره BTC کمتر از <10%.
حداکثر ≤3 چرخه همراه با آمادهسازی محل، چاپ خمیر و تأیید پس از AXI.
BGAهای متراکم با boundary-scan، آندرفیل و ردیابیپذیری بازکاری.
پاکیزگی، AOI/AXI و سوابق بازکاری برای تجهیزات کلاس II/III.
دادههای حفره و hi-pot و شواهد آماده PPAP برای ECUها و اینورترها.
ماژولهای RF دارای شیلد با ریفلوی کنترلشده و اهداف حفره.
کیفیت و هزینه
تنظیم فرایند و تحلیل، بازکاری را محدود نگه میدارد
کیفیت
کیفیت
هزینه
هزینه
Everything you need to know about HDI PCB technology
فایلهای خود را بارگذاری کنید تا برنامه DFM، فرایند و بازرسی اتصالات پنهان را دریافت کنید.